JEDEC Solid State Technology Association hari ini mengumumkan bahwa standar Universal Flash Storage (UFS) 5.0 hampir rampung. Generasi terbaru ini dirancang untuk aplikasi mobile dan sistem komputasi berperforma tinggi yang membutuhkan kecepatan transfer tinggi namun tetap hemat daya.
Dengan peningkatan signifikan, UFS 5.0 akan menawarkan kecepatan sekuensial baca/tulis hingga 10.8 GB/s, dua kali lebih cepat dibandingkan generasi sebelumnya (UFS 4.1), sambil mempertahankan kompatibilitas penuh dengan perangkat keras UFS 4.x.
⚡ Performa Tinggi, Konsumsi Daya Efisien
Untuk mencapai efisiensi daya terbaik, UFS 5.0 kembali bekerja sama dengan MIPI Alliance, menggunakan:
- MIPI M-PHY versi 6.0
- UniPro versi 3.0
M-PHY 6.0 memperkenalkan High-Speed Gear 6 (HS-G6) yang menggandakan kecepatan data dari versi sebelumnya (HS-G5) hingga 46.6 Gb/s per lane, memungkinkan bandwidth efektif 10.8 GB/s dengan dua jalur M-PHY.
“Dengan UFS 5.0, kami menghadirkan performa kelas AI ke dalam penyimpanan mobile tanpa mengorbankan efisiensi daya,” tulis JEDEC dalam pengumumannya.
🧠 Dirancang untuk Era AI dan Komputasi Edge
Standar UFS 5.0 ditujukan untuk berbagai perangkat modern, termasuk:
- Smartphone dan wearable,
- Sistem komputasi edge dan AI,
- Konsol game dan perangkat otomotif.
Dengan antarmuka serial berkecepatan tinggi dan protokol yang efisien, UFS 5.0 mampu memberikan transfer data super cepat sambil menjaga konsumsi daya tetap rendah — ideal untuk mendukung beban kerja berbasis AI, grafis, dan pemrosesan real-time.
🔒 Fitur Utama UFS 5.0
- 🚀 Kecepatan baca/tulis sekuensial hingga 10.8 GB/s
- 📶 Link equalization terintegrasi untuk stabilitas sinyal yang lebih baik
- ⚡ Rel daya terpisah antara PHY dan subsistem memori, mengurangi noise
- 🔐 Inline hashing untuk peningkatan keamanan data
🧩 Latar Belakang
Versi terbaru sebelumnya, UFS 4.1 (JESD220G), dirilis pada Desember 2024, melanjutkan UFS 4.0 dari 2022. Kini, UFS 5.0 siap menjadi tonggak penting untuk penyimpanan generasi berikutnya, menghadirkan kombinasi kecepatan, efisiensi, dan keandalan untuk perangkat masa depan.
Sumber: JEDEC